El microscopio tipo JSPM-5200 Environmental Scanning Probe Microscope está diseñado para ser usado con gran versatilidad en el análisis de muestras. Las características principales de este equipo es que pueden ser usados desde ambiente normal, atmósfera controlada, líquido o de vacío. Esto significa que el JSPM-5200 tiene la capacidad única de observar las superficies de sus ambientes nativos, y también para medir las propiedades físicas y capacidad de observar los fenómenos dinámicos.








Modo de análisis JSPM-5200:

Mode	Measurement modes
Contac mode AFM	Topography	Standard
	Force Image	Standard
	FFM	Standard
	Force Curve	Standard
	I-V, CITS	Conductive cantilever needed
	Contact Current Image	Conductive cantilever needed
AC- mode AFM	Topography	Standard
	Phase Image	Standard
	Amplitude Image	Standard
	MFM	Magnetic cantilever needed
	Topography	Standard
	Current Image	Standard
	I -V, I-S, S-V, CITS	Standard

JSPM-5200 ENVIRONMENTAL SCANNING PROBE MICROSCOPE ESSENTIAL SPECIFICATIONS
Resolution	AFM: Atomic resolution (mica with the contact mode) STM: Atomic resolution (HOPG atomic image)
System drift	0.05 nm/s or less, drift-free stage available
Measurement mode	AFM Contact mode Topography image, Force image Focus curve, Friction force curve, I-V, CITS, Contact current image, SPS mapping AC mode Topography image, Phase image, Amplitude image Slope detection mode, FM detection mode Lift mode (point by point) STM STM mode T opography image, Current image, CITS I-V, S-V, I-S
Scan range	XY : 0 to 10 μm (standard scanner) Resolution: 25 bits (including offset) Z : 0 to 3 μm (standard scanner) Resolution: 21 bits (at a gain of 32)
Sample size	Up to 50 mm  50 mm 3 mm (T) Standard: 10 mm 10 mm  3 mm (T)