JSPM-5200 Environmental Scanning Probe Microscope






El microscopio tipo JSPM-5200 Environmental Scanning Probe Microscope está diseñado para ser usado con gran versatilidad en el análisis de muestras. Las características principales de este equipo es que pueden ser usados desde ambiente normal, atmósfera controlada, líquido o de vacío. Esto significa que el JSPM-5200 tiene la capacidad única de observar las superficies de sus ambientes nativos, y también para medir las propiedades físicas y capacidad de observar los fenómenos dinámicos.








Modo de análisis JSPM-5200:

Mode
Measurement modes

Contac mode
AFM
Topography
Standard
Force Image
Standard
FFM
Standard
Force Curve
Standard
I-V, CITS
Conductive cantilever needed
Contact Current Image
Conductive cantilever needed
AC- mode AFM
Topography
Standard
Phase Image
Standard
Amplitude Image
Standard
MFM
Magnetic cantilever needed

Topography
Standard
Current Image
Standard
I -V, I-S, S-V, CITS
Standard

Especificaciones

JSPM-5200 ENVIRONMENTAL SCANNING PROBE MICROSCOPE ESSENTIAL SPECIFICATIONS
Resolution
AFM: Atomic resolution (mica with the contact mode)
STM: Atomic resolution (HOPG atomic image)
System drift
0.05 nm/s or less, drift-free stage available
Measurement mode
AFM Contact mode
Topography image, Force image
Focus curve, Friction force curve, I-V, CITS,
Contact current image, SPS mapping
AC mode
Topography image, Phase image, Amplitude image
Slope detection mode, FM detection mode
Lift mode (point by point)
STM STM mode T opography image, Current image, CITS I-V, S-V, I-S
Scan range
XY : 0 to 10 μm (standard scanner)
Resolution: 25 bits (including offset)
Z : 0 to 3 μm (standard scanner)
Resolution: 21 bits (at a gain of 32)
Sample size
Up to 50 mm  50 mm 3 mm (T)
Standard: 10 mm 10 mm  3 mm (T)