El ARM200F permite obtener imágenes de alta resolución átomo por átomo así como resolución espacial atómica en el mapeo químico de materiales, EDS (energy-dispersive x-ray spectroscopy) y EELS (electron energy-loss spectroscopy).
El nuevo y completo diseño de la columna de electrones integrada por S/TEM con corrector de aberración Cs para la resolución atómica combinada con una alta corriente de prueba para el microanálisis. Actualmente el JEM-ARM200F ofrece gran estabilidad mecánica y eléctrica para la obtención de imágenes de alta resolución a niveles sub-nanometricas.
El ARM200F permite obtener imágenes en modo STEM-HAADF con resolución de hasta 80 picometros resolución más alta en microscopios con sistema Cs por lo que lo hace uno de los mejores microscopios en el mundo. La fuente de electrones fiel emission es de tipo Schottky FEG Emitter –Zr/W<100>. La aceleración de voltaje puede ser seleccionada hasta 200KV. Este microscopio nos permite observar muestras en modo:
* STEM-BF
* STEM-HAADF: Resolucion 0.08 nm (URP) o 0.1 nm (HRP)
* Basckscattered electron images TEM
* Electron diffraction pattern
El JEM-ARM200F tiene tres principales características que lo hacen único:
* Estabilidad mecánica
* Estabilidad eléctrica
* Mejora de medidas contra ambientes externos
High-resolution STEM-HAADF, imagen de Si [112], patron FFT tomada en modo STEM-HAADF image
Resolución atómica EELS de SrTiO3. (a) imagen STEM-HAADF, (b) Columna de átomos de Sr, (c) Columna de átomos de Ti y (d) Columna de átomos de O
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Resolution JEM-ARM200F
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Scanning transmission image 1)
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0.08 nm 2) (at 200kV)
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Transmission image
Point image
Lattice image
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0.19 nm (at 200kV)
0.11 nm with TEM Cs corrector 3) (at 200kV)
0.10 nm
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Magnification
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Scanning transmission image
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200 to 150,000,000x
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Transmission image
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50 to 2,000,000x
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Electron gun
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Schottky field emission gun
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Accelerating voltage
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80 to 200 kV 4)
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Specimen Stage
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Stage
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Eucentric side entry goniometer stage
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Specimen size
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3 mm dia.
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Tilt angle
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Up to 25° (with double tilt holder)
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Movement range
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X/Y: ±1.0 mm (motor drive/piezo drive)
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Cs Correctors
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STEM Cs corrector
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Standard
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TEM Cs corrector
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Optional
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Optional accessories
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Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)
Electron energy-loss spectrometer (EELS)
CCD camera, etc.
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Especificaciones
1) With HAADF (high-angle annular dark-field) detector
2) Verified using Ge(112) specimen
3) Optional
4) Standard voltage: 120 kV, 200 kV